OptraSCAN的OS-SiA掃描儀獲專利

加利福尼亞州聖何塞2022年5月24日 /美通社/ -- 領先的端到端數字病理學解決方案提供商OptraSCAN®宣佈，其數字病理學掃描儀OS-SiA已獲得美國專利商標局授予美國專利，編號2020/0334814 A1。OS-SiA採用內置智能技術設計，可同時對病理樣本進行掃描、索引和分析。這將使最終用户能夠在審查過程中查看整個切片掃描圖像，並附加分析結果。

該項專利描述了OptraSCAN公司發明的一種技術：人工智能數字病理掃描儀OS-SiA可自動識別樣本以進行掃描，同時對掃描組織或細胞區域進行分析。OS-SiA是業界首款人工智能數字掃描儀，可提供即時預測性分析和可行的見解。

OptraSCAN創始人兼首席執行官Abhi Gholap表示：“目前，數字病理切片掃描儀僅限於採集部分或全部切片圖像並將其進行數字化成像。我們的下一代掃描儀OS-SiA可以同時進行掃描和分析，無需額外的處理應用程序， 這項專利凸顯了我們為改進數字病理學解決方案的採用和支持病理學界而不斷做出的努力。”

OS-SiA可嵌入其現有的雲技術明場系列掃描儀，即OS-Lite和OS-Ultra。定製算法可在掃描時提供即時ROI檢測、IHC/HNE標誌物的細胞定量，以及使用核心庫構建的形態學測量。整個切片圖像可通過本地/網絡/雲技術影像檢視器查看。深度學習計算模塊可實現掃描設備自我學習。

“這是我們加速採用數字病理學所需的突破，同時進行掃描和分析將幫助病理學家做出更快的決策並改善患者預後”， OptraSCAN醫學顧問、 不列顛哥倫比亞大學病理學系主任Zu-Hua Gao博士表示。 

消息來源：OptraSCAN Inc.